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渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。
測厚儀分為:X射線測厚儀、γ射線測厚儀、激光測厚儀。他們各有優缺點,就我目前了解到的情況沒有見到過紅外線的測厚儀,紅外線也是屬于光的一種,如果有的話應該歸屬于激光測厚儀大類里面,紅外激光是不可見的光,用紅外激光做成的測厚儀可稱為紅外線測厚儀。
粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點。
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