四探針電阻率測(cè)試儀其實(shí)從專業(yè)角度來(lái)說(shuō)，就是高溫四探針測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫四探針夾具、電阻率測(cè)試儀和高溫電阻率測(cè)量軟件。三琦高溫四探針測(cè)量系統(tǒng)是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。
四探針測(cè)試技術(shù)，簡(jiǎn)稱為四探針?lè)ǎ菧y(cè)量半導(dǎo)體電阻率最常用的一種方法。四探針測(cè)試技術(shù)，是用4根等間距配置的探針扎在半導(dǎo)體表面上，由恒流源給外側(cè)的兩根探針提供一個(gè)適當(dāng)小的電流I，然后測(cè)量出中間兩根探針之間的電壓V，就可以求出半導(dǎo)體的電阻率。
．能否用四探針?lè)y(cè)量n／p外延片外延層的電阻率？能用四探針?lè)y(cè)量異型外延片。3．為什么測(cè)量單晶樣品電阻率時(shí)測(cè)試平面要求為毛面，而測(cè)試擴(kuò)散片擴(kuò)散層薄層電阻時(shí)測(cè)試面可為鏡面？毛面較能保證金屬探針與樣品接觸良好，所以測(cè)量單晶樣品電阻率時(shí)測(cè)試平面要求為毛面。
四探針?lè)y(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn)，它不需要較準(zhǔn)；有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針?lè)ㄝ^準(zhǔn)。
總的來(lái)說(shuō)，四探針電阻測(cè)試儀的工作原理就像是一部精密的電子魔術(shù)師，通過(guò)巧妙的探針布局和復(fù)雜的計(jì)算，為我們揭示了電阻率測(cè)量的深層秘密。無(wú)論你是科研人員還是工程師，掌握這種技術(shù)都將為你在電子材料的研究與應(yīng)用中增添一把利器。
三琦高溫四探針測(cè)量系統(tǒng)是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成，包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫四探針夾具、電阻率測(cè)試儀和高溫電阻率測(cè)量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。
測(cè)試儀的基本原理仍然是恒流源給探針頭（4探針）提供穩(wěn)定的測(cè)量電流I（由DVM1監(jiān)測(cè)），探針頭（3）探針測(cè)取電位差V（由DVM2測(cè)量），由下式即可計(jì)算出材料的電阻率：厚度小于4倍探針間距的樣片均可按下式計(jì)算式中：V——DVM2的讀數(shù)，mV。 I——DVM1的讀數(shù)，mA。 W——被測(cè)樣片的厚度值以cm為單位。
不能用四探針?lè)y(cè)量同型外延片。2．能否用四探針?lè)y(cè)量n／p外延片外延層的電阻率？能用四探針?lè)y(cè)量異型外延片。
意思就是要用歐姆表去直接測(cè)量. 歐姆表就是自身產(chǎn)生一個(gè)弱電流， 去測(cè)量探針兩端的電壓， 然后和自身的體電阻比較， 最后給出電阻值. 但是這對(duì)于半導(dǎo)體是不準(zhǔn)確的， 半導(dǎo)體電阻無(wú)法用兩根探針測(cè)量的主要原因是：1．接觸電阻的影響嚴(yán)重。
四探針?lè)y(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn)，它不需要較準(zhǔn)；有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針?lè)ㄝ^準(zhǔn)。
KDY—1型四探針電阻率/方阻測(cè)試儀使用說(shuō)明書廣州市昆德科技有限公司概述KDY-1型四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。
1、HRMS-800高溫四探針電阻率測(cè)試儀就是，主要測(cè)量的參數(shù)就是半導(dǎo)體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。
2、四探針?lè)ㄍǔＳ脕?lái)測(cè)量半導(dǎo)體的電阻率。四探針?lè)y(cè)量電阻率有個(gè)非常大的優(yōu)點(diǎn)，它不需要校準(zhǔn)；有時(shí)用其它方法測(cè)量電阻率時(shí)還用四探針?lè)ㄐ?zhǔn)。
3、四探針測(cè)量法是一種常用的體積電阻率測(cè)試方法，主要用于測(cè)量電子導(dǎo)體、導(dǎo)電薄膜及半導(dǎo)體材料。它通過(guò)使用四個(gè)電極，在被測(cè)材料上施加電壓并測(cè)量電流來(lái)測(cè)量體積電阻率。由于四探針測(cè)量法能夠消除電極接觸電阻的影響，因此能夠提供更準(zhǔn)確的體積電阻率測(cè)量結(jié)果。
4、四探針電阻率測(cè)試儀其實(shí)從專業(yè)角度來(lái)說(shuō)，就是高溫四探針測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫四探針夾具、電阻率測(cè)試儀和高溫電阻率測(cè)量軟件。三琦高溫四探針測(cè)量系統(tǒng)是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。
5、四探針測(cè)試技術(shù)，簡(jiǎn)稱為四探針?lè)ǎ菧y(cè)量半導(dǎo)體電阻率最常用的一種方法。四探針測(cè)試技術(shù)，是用4根等間距配置的探針扎在半導(dǎo)體表面上，由恒流源給外側(cè)的兩根探針提供一個(gè)適當(dāng)小的電流I，然后測(cè)量出中間兩根探針之間的電壓V，就可以求出半導(dǎo)體的電阻率。
6、我的是碳化硅的試條，寬高都是12mm，長(zhǎng)度現(xiàn)在有二十幾mm，想做一下電阻率的測(cè)試，我看實(shí)驗(yàn)室的四點(diǎn)探針儀器是WC的針頭，想測(cè)一下電阻率，以前也是這種碳化硅試條，做測(cè)試的時(shí)候也磨光過(guò)一個(gè)表面，但是試樣本身氣孔 ... 你這個(gè)四探針電阻率測(cè)試儀是測(cè)表面電阻的吧。
四探針測(cè)量法是一種常用的體積電阻率測(cè)試方法，主要用于測(cè)量電子導(dǎo)體、導(dǎo)電薄膜及半導(dǎo)體材料。它通過(guò)使用四個(gè)電極，在被測(cè)材料上施加電壓并測(cè)量電流來(lái)測(cè)量體積電阻率。由于四探針測(cè)量法能夠消除電極接觸電阻的影響，因此能夠提供更準(zhǔn)確的體積電阻率測(cè)量結(jié)果。
在四探針測(cè)量中，一對(duì)探針用於注入測(cè)量電流同時(shí)另一對(duì)并聯(lián)的探針用於測(cè)量跨越器件的勢(shì)降。在四探針情形下，沒(méi)有通過(guò)電壓測(cè)量探針的勢(shì)降因而接觸電阻降并不包括其中。從兩極法和四極法推導(dǎo)的電阻差值是對(duì)接觸電阻合理準(zhǔn)確的測(cè)量假設(shè)探針電阻足夠小而忽略不計(jì)。特性接觸電阻可以通過(guò)乘以接觸面積來(lái)得到。
盡管電壓計(jì)測(cè)量的電壓也包含了導(dǎo)線電壓和接觸電壓，但由于電壓計(jì)的內(nèi)阻很大，通過(guò)電壓計(jì)的電流非常小，因此，導(dǎo)線電壓與接觸電壓可以忽略不計(jì)，測(cè)量的電壓值基本上等于電阻器兩端的電壓值。通過(guò)采用四探針?lè)ㄈ〈结樂(lè)ǎM管電流所走的路徑是一樣的，但由于消除掉了寄生壓降，使得測(cè)量變得精確了。
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